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文章來源 : 粵科檢測 發(fā)表時間:2023-09-05 瀏覽量:
汽車電子委員會(AEC- Automotive Electronics Council)由克萊斯勒(Chrysler) 、福特(Ford) 和通用汽車公司(General Motors)成立,旨在制定電氣元件的通用質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。第一版AEC標(biāo)準(zhǔn)是1994年推出的,100針對集成電路,101針對分離元件,102針對光電元件,104針對MCM模塊,200針對被動元件。
AEC-Q100是基于失效機(jī)理的集成電路應(yīng)力測試鑒定,適用于車用 IC 芯片的綜合可靠性測試認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn),是芯片產(chǎn)品應(yīng)用于汽車領(lǐng)域的基本門檻。
首版于1995年發(fā)行,并持續(xù)更新到2014年的 H 版本,也是目前沿用的最新標(biāo)準(zhǔn)。
AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)是芯片產(chǎn)品(依產(chǎn)品類型、封裝形貌及取樣數(shù)量的要求)執(zhí)行并通過的必要測試項目。
AEC-Q100規(guī)范7大類別共41項的測試:
群組A-加速環(huán)境應(yīng)力測試共6項測試,
包含:PC、THB、HAST、AC、UHST、TH、TC、PTC、HTSL
群組B-加速生命周期模擬測試共3項測試,
包含:HTOL、ELFR、EDR
群組C-封裝組裝完整性測試共6項測試,
包含:WBS、WBP、SD、PD、SBS、LI
群組D-芯片制造可靠性測試共5項測試,
包含:EM、TDDB、HCI、NBTI、SM
群組E-電性驗證測試共11項測試,
包含:TEST、FG、HBM/MM、CDM、LU、ED、CHAR、GL、EMC、SC、SER
群組F-缺陷篩選測試共11項測試,
包含:PAT、SBA
群組G-腔封裝完整性測試共8項測試,
包含:MS、VFV、CA、GFL、DROP、LT、DS、IWV。
江蘇粵科檢測是專業(yè)第三方AEC-Q100認(rèn)證機(jī)構(gòu),實驗室具備AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項檢測資質(zhì)和CNCA發(fā)證能力,可提供IC集成電路AEC-Q100認(rèn)證服務(wù)。
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